روشهای آزمایشی پیشرفته برای تحقیقات نویز در دستگاههای الکترونیکی در مقیاس نانو
Advanced Experimental Methods For Noise Research in Nanoscale Electronic Devices
نویسنده: F.N. Hooge (auth.), Josef Sikula, Michael Levinshtein (eds.)
ناشر: Springer Netherlands
سال انتشار: 2005
تعداد صفحات: 378
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 4 مگابایت