تست تولید پیشرفته دستگاه های RF، SoC و SiP
Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices
نویسنده: Joe Kelly, Michael D. Engelhardt
سال انتشار: 2006
تعداد صفحات: 326
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 2 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.