خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience

میکروسکوپ الکترونی انتقالی پیشرفته: تصویربرداری و پراش در علم نانو

Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience

نویسنده: Jian Min Zuo, John C.H. Spence (auth.)

ناشر: Springer-Verlag New York

سال انتشار: 2017

تعداد صفحات: 741

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 27 مگابایت