سیستم توموگرافی امپدانس پیشرفته با دقت فاز بالا
Advanced electrical impedance tomography system with high phase accuracy
نویسنده: Egon Zimmermann, J. A. Huisman, A. Kemna, J. Berwix, W. Glaas, H. Meier, B. Wolters, O. Esser
ناشر: International Society for Industrial Process Tomography
سال انتشار: 2010
تعداد صفحات: 9
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 826 کیلوبایت