خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Advances in X-Ray Analysis: Volume 33

پیشرفت در تجزیه و تحلیل اشعه ایکس: جلد 33

Advances in X-Ray Analysis: Volume 33

نویسنده: B. K. Tanner (auth.), Charles S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, Paul K. Predecki (eds.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 1990

تعداد صفحات: XX, 704 p. [685]

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 22 مگابایت