پیشرفت در تحلیل X-Ray: دوره 38
Advances in X-Ray Analysis: Volume 38
نویسنده: Robert L. Snyder, Bin-Jiang Chen (auth.), Paul K. Predecki, D. Keith Bowen, John V. Gilfrich, Charles C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, Deane K. Smith (eds.)
ناشر: Springer US
سال انتشار: 1995
تعداد صفحات: 1995 [766]
زبان: German
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 51 مگابایت