پیشرفت در تجزیه و تحلیل اشعه ایکس: جلد 39
Advances in X-Ray Analysis: Volume 39
نویسنده: J. L. de Vries (auth.), John V. Gilfrich, Ron Jenkins, Robert L. Snyder, Mary Ann Zaitz, I. Cev Noyan, Ting C. Huang, Deane K. Smith, Paul K. Predecki (eds.)
ناشر: Springer US
سال انتشار: 1998
تعداد صفحات: 864
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 48 مگابایت