مقدمه ای برای تجزیه و تحلیل سطح توسط XPS و AES
An Introduction To Surface Analysis By XPS And AES
نویسنده: John F. Watts, John Wolstenholme
ناشر: Wiley
سال انتشار: 2003
تعداد صفحات: 226
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 13 مگابایت