مقدمه ای برای تجزیه و تحلیل سطح توسط XPS و AES
An introduction to surface analysis by XPS and AES
نویسنده: John F. Watts, John Wolstenholme
ناشر: J. Wiley
سال انتشار: 2003
تعداد صفحات: 224 [225]
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 12 مگابایت