قابلیت اطمینان IC آنالوگ در نانومتر CMOS
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
نویسنده: Elie Maricau, Georges Gielen (auth.)
ناشر: Springer-Verlag New York
سال انتشار: 2013
تعداد صفحات: 207
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 5 مگابایت