تفسیر تست خوب کاربردی
Applied Well Test Interpretation
نویسنده: John P. Spivey and W. John Lee
ناشر: SPE
سال انتشار: 2013
تعداد صفحات: 385
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 24 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.