میکروسکوپ نیروی اتمی / میکروسکوپ تونل زنی اسکن 2
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2
نویسنده: Michael F. Crommie (auth.), Samuel H. Cohen, Marcia L. Lightbody (eds.)
ناشر: Springer US
سال انتشار: 1997
تعداد صفحات: 243
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 9 مگابایت