خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

خصوصیات مقیاس اتمی و مطالعات اصول اولیه رابط های Si₃N4

Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces

نویسنده: Weronika Walkosz (auth.)

ناشر: Springer-Verlag New York

سال انتشار: 2011

تعداد صفحات: 122

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 3 مگابایت