خرید و دانلود نسخه کامل کتاب CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test

طراحی مدار CMOS SRAM و تست پارامتریک در فناوری‌های مقیاس نانو: طراحی و آزمایش SRAM با آگاهی از فرآیند

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test

نویسنده: Andrei Pavlov

ناشر: Springer

سال انتشار: 2008

تعداد صفحات: 203

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 11 مگابایت