خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference (AIP Conference Proceedings)

خصوصیات و اندازه شناسی برای فناوری ULSI 2000: کنفرانس بین المللی (مجموعه مقالات کنفرانس AIP)

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference (AIP Conference Proceedings)

نویسنده: David G. Seiler, Alain C. Diebold, Thomas J. Shaffner, Robert McDonald, W. Murray Bullis, Patrick J. Smith, Erik M. Secula

ناشر: American Inst. of Physics

سال انتشار: 2001

تعداد صفحات: 205

زبان: English

فرمت: djvu - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 6 مگابایت