خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Characterization of Defects and Deep Levels for GaN Power Devices

خصوصیات نقص و سطح عمیق برای دستگاه های قدرت GAN

Characterization of Defects and Deep Levels for GaN Power Devices

نویسنده: Tetsuo Narita and Tetsu Kachi

ناشر: AIP Publishing

سال انتشار: 2020

تعداد صفحات: 226

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 12 مگابایت