شناسایی ریزساختارها با میکروسکوپ الکترونی تحلیلی (AEM)
Characterization of Microstructures by Analytical Electron Microscopy (AEM)
نویسنده: Prof. Yonghua Rong (auth.)
ناشر: Springer Berlin Heidelberg
سال انتشار: 2012
تعداد صفحات: 566
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 16 مگابایت