عیوب نیمه هادی شارژ شده: ساختار، ترمودینامیک و انتشار
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion
نویسنده: Edmund G. Seebauer, Meredith C. Kratzer (auth.)
ناشر: Springer-Verlag London
سال انتشار: 2009
تعداد صفحات: 303
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 9 مگابایت