خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry: Principles and Applications

طیف سنجی جرمی یون ثانویه خوشه ای: اصول و کاربردها

Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry: Principles and Applications

نویسنده: Dominic M. Desiderio, Nico M. M. Nibbering, Joseph A. Loo(eds.)

ناشر: John Wiley & Sons, Incorporated, 2013 jun 28

سال انتشار: 2013

تعداد صفحات: 357

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 10 مگابایت