اتوماسیون اشکال زدایی از Pre-Silicon تا Post-Silicon
Debug Automation from Pre-Silicon to Post-Silicon
نویسنده: Mehdi Dehbashi, Görschwin Fey (auth.)
ناشر: Springer International Publishing
سال انتشار: 2015
تعداد صفحات: 180
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 4 مگابایت