خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits: 2nd Edition

تست عیب گرا برای مدارهای نانو متریک CMOS VLSI: نسخه دوم

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits: 2nd Edition

نویسنده: Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez (auth.), Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez (eds.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 2007

تعداد صفحات: 342

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 6 مگابایت