خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

ناهنجاری های آنورکتال در کودکان: جنین شناسی ، تشخیص ، درمان جراحی ، پیگیری

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

نویسنده: Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez

ناشر: Springer

سال انتشار: 2007

تعداد صفحات: 342

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 6 مگابایت