اندازه نقص با استفاده از تست اولتراسونیک غیر مخرب: اعمال منحنی های DAC و DGS وابسته به پهنای باند
Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing: Applying Bandwidth-Dependent DAC and DGS Curves
نویسنده: Wolf Kleinert (auth.)
ناشر: Springer International Publishing
سال انتشار: 2016
تعداد صفحات: 126
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 8 مگابایت