عیوب و ناخالصی ها در مواد سیلیکونی: مقدمه ای بر مهندسی سیلیکون سطح اتمی
Defects and Impurities in Silicon Materials: An Introduction to Atomic-Level Silicon Engineering
نویسنده: Yutaka Yoshida, Guido Langouche (eds.)
ناشر: Springer Japan
سال انتشار: 2015
تعداد صفحات: 498
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 22 مگابایت