خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices

نقص در پشته های دی الکتریک گیت HIgh-k: دستگاه های نیمه هادی نانو الکترونیک

Defects in HIgh-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices

نویسنده: Evgeni Gusev (editor)

ناشر: Springer

سال انتشار: 2006

تعداد صفحات: 494

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 39 مگابایت