خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices

نقص در پشته های دی الکتریک دروازه High k: دستگاه های نیمه هادی نانو الکترونیکی

Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Semiconductor Devices

نویسنده: MASAAKI NIWA, RIICHIROU MITSUHASHI (auth.), Evgeni Gusev (eds.)

ناشر: Springer Netherlands

سال انتشار: 2006

تعداد صفحات: 493

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 26 مگابایت