خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology

نقص در SiO2 و دی الکتریک های مرتبط: علم و فناوری

Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology

نویسنده: Adrian C. Wright (auth.), G. Pacchioni, L. Skuja, D. L. Griscom (eds.)

ناشر: Springer Netherlands

سال انتشار: 2000

تعداد صفحات: 618

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 27 مگابایت