خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Delay Fault Testing for VLSI Circuits

تأخیر تست خطا برای مدارهای VLSI

Delay Fault Testing for VLSI Circuits

نویسنده: Angela Krstić, Kwang-Ting Cheng (auth.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 1998

تعداد صفحات: 200

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 8 مگابایت