خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

طراحی ، تحلیل و آزمایش مدارهای منطقی تحت عدم قطعیت

Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

نویسنده: Smita Krishnaswamy, Igor L. Markov, John P. Hayes (auth.)

ناشر: Springer Netherlands

سال انتشار: 2013

تعداد صفحات: 129

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 3 مگابایت