طراحی و فناوری تست برای سیستم های قابل اعتماد روی تراشه
Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip
نویسنده: Ubar, Raimund; Raik, Jaan; Vierhaus, Heinrich Theodor
ناشر: IGI Global
سال انتشار: 2011
تعداد صفحات: 579
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 23 مگابایت