خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics: Time Dependent Failure Mechanisms

خرابی دی الکتریک در Gigascale Electronics: مکانیسم های شکست وابسته به زمان

Dielectric Breakdown in Gigascale Electronics: Time Dependent Failure Mechanisms

نویسنده: Juan Pablo Borja, Toh-Ming Lu, Joel Plawsky (auth.)

ناشر: Springer International Publishing

سال انتشار: 2016

تعداد صفحات: 109

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 4 مگابایت