تست سیستم های دیجیتال
Digital Systems Testing & Testable Design
نویسنده: Miron Abramovici, Melvin A. Breuer, Arthur D. Friedman
ناشر: Wiley-IEEE Press
سال انتشار: 1994
تعداد صفحات: 133
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 3 مگابایت