مقدمه ای بر تجزیه و تحلیل ساختار ظریف اشعه ایکس: کتاب درسی برای فیزیکدانان، شیمیدانان، شیمی دانان فیزیک، متالوژیست ها، بلورشناسان و کانی شناسان در مرحله دوم مطالعه
Einführung in die Röntgenfeinstrukturanalyse: Lehrbuch für Physiker, Chemiker, Physikochemiker, Metallurgen, Kristallographen und Mineralogen im 2. Studienabschnitt
نویسنده: Harald Krischner (auth.)
ناشر: Vieweg+Teubner Verlag
سال انتشار: 1990
تعداد صفحات: 208
زبان: German
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 9 مگابایت