مهاجرت الکتریکی به داخل سلول های منطقی: مدل سازی، تجزیه و تحلیل و کاهش امواج الکترومیزی سیگنال در NanoCMOS
Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS
نویسنده: Gracieli Posser, Sachin S. Sapatnekar, Ricardo Reis (auth.)
ناشر: Springer International Publishing
سال انتشار: 2017
تعداد صفحات: 134
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 5 مگابایت