مدلسازی مهاجرت الکتریکی در سطح طرحبندی مدار
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
نویسنده: Cher Ming Tan, Feifei He
ناشر: Springer
سال انتشار: 2013
تعداد صفحات: 114
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 5 مگابایت