خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability

الکتریکی در فیلم های نازک و دستگاه های الکترونیکی: مواد و قابلیت اطمینان

Electromigration in Thin Films and Electronic Devices: Materials and Reliability

نویسنده: Choong-Un Kim

ناشر: Woodhead Publishing

سال انتشار: 2011

تعداد صفحات: 345

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 7 مگابایت