قابلیت اطمینان الکترونیک و فناوری اندازه گیری. ارزیابی غیرمخرب
Electronics Reliability and Measurement Technology. Nondestructive Evaluation
نویسنده: Joseph S. Heyman (Eds.)
ناشر: Noyes Data Corp
سال انتشار: 1988
تعداد صفحات: 132
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 5 مگابایت