خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Electronics Reliability and Measurement Technology: Nondestructive Evaluation

قابلیت اطمینان و فناوری اندازه‌گیری الکترونیک: ارزیابی غیرمخرب

Electronics Reliability and Measurement Technology: Nondestructive Evaluation

نویسنده: Joseph S. Heyman, Joseph S. Heyman

ناشر: William Andrew

سال انتشار: 1999

تعداد صفحات: 144

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 7 مگابایت