خودآزمایی مبتنی بر پردازنده جاسازی شده
Embedded Processor-Based Self-Test
نویسنده: Dimitris Gizopoulos, Antonis Paschalis, Yervant Zorian (auth.)
ناشر: Springer US
سال انتشار: 2004
تعداد صفحات: 225
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 4 مگابایت