خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability

فناوری های نانو در حال ظهور: آزمون ، تحمل نقص و قابلیت اطمینان

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance, and Reliability

نویسنده: T. Hogg, G. Snider (auth.), Mohammad Tehranipoor (eds.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 2008

تعداد صفحات: 410

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 9 مگابایت