خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy

ارزیابی مواد نیمه هادی پیشرفته توسط میکروسکوپ الکترونی

Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy

نویسنده: Rob W. Glaisher, J. C. Barry, David J. Smith (auth.), David Cherns (eds.)

ناشر: Springer US

سال انتشار: 1990

تعداد صفحات: 412

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 15 مگابایت