حافظه های ترانزیستور اثر میدان فروالکتریک گیت: فیزیک دستگاه و کاربردها
Ferroelectric-Gate Field Effect Transistor Memories: Device Physics and Applications
نویسنده: Byung-Eun Park, Hiroshi Ishiwara, Masanori Okuyama, Shigeki Sakai, Sung-Min Yoon (eds.)
ناشر: Springer Netherlands
سال انتشار: 2016
تعداد صفحات: 350
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 18 مگابایت