خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives for Materials Characterization

میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی: دیدگاه های جدید برای مشخصه مواد

Field Emission Scanning Electron Microscopy: New Perspectives for Materials Characterization

نویسنده: Nicolas Brodusch,Hendrix Demers,Raynald Gauvin (auth.)

ناشر: Springer Singapore

سال انتشار: 2018

تعداد صفحات: 143

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 7 مگابایت