میکروسکوپ زمینه یون
Field-Ion Microscopy
نویسنده: E. W. Müller (auth.), John J. Hren, S. Ranganathan (eds.)
ناشر: Springer US
سال انتشار: 1968
تعداد صفحات: 256
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 6 مگابایت
توضیحی برای این کتاب ثبت نشده است.