خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations

مبانی میکروسکوپ نیروی اتمی: بخش اول: مبانی

Fundamentals of Atomic Force Microscopy: Part I: Foundations

نویسنده: Ronald Reifenberger

ناشر: World Scientific Publishing Co

سال انتشار: 2016

تعداد صفحات: 341

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 13 مگابایت