لامابوک
  • صفحه اصلی
  • کتاب‌ها
  • Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling

خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling

مبانی بی ثباتی دما در ترانزیستورهای MOS: روشهای توصیف ، فرایند و تأثیر مواد ، مدلسازی DC و AC

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling

نویسنده: Souvik Mahapatra (eds.)

ناشر: Springer India

سال انتشار: 2016

تعداد صفحات: 281

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 21 مگابایت

104,000 تومان 73,000 تومان