مبانی تحلیل فیلم در مقیاس نانو
Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
نویسنده: Terry L. Alford, Leonard C. Feldman, James W. Mayer (auth.)
ناشر: Springer US
سال انتشار: 2007
تعداد صفحات: 348
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 5 مگابایت