دریافت عیوب در نیمه هادی ها (سری اسپرینگر در میکروالکترونیک پیشرفته، 19)
Gettering Defects in Semiconductors (Springer Series in Advanced Microelectronics, 19)
نویسنده: Victor A. Perevostchikov, Vladimir D. Skoupov
ناشر: Springer
سال انتشار: 2005
تعداد صفحات: 400
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 5 مگابایت