دریافت عیوب در نیمه هادی ها (سری اسپرینگر در میکروالکترونیک پیشرفته)
Gettering Defects in Semiconductors (Springer Series in Advanced Microelectronics)
نویسنده: V.A. Perevostchikov, V.D. Skoupov
ناشر: Springer
سال انتشار: 2005
تعداد صفحات: 400
زبان: English
فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل: 4 مگابایت