خرید و دانلود نسخه کامل کتاب Helium Ion Microscopy: Principles and Applications

میکروسکوپ یون هلیوم: اصول و کاربردها

Helium Ion Microscopy: Principles and Applications

نویسنده: David C. Joy (auth.)

ناشر: Springer-Verlag New York

سال انتشار: 2013

تعداد صفحات: 63

زبان: English

فرمت: pdf - قابل تبدیل به سایر فرمت ها

حجم فایل: 2 مگابایت